沃特世質譜SYNAPT G2-Si

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產品編號 84746JK11341

產品型號 SYNAPT G2-Si

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技術參數

廣州深華公司提供的沃特世SYNAPT G2-Si 質譜質量過硬，物美價廉。

型號：SYNAPT G2-Si

產品描述：

SYNAPT所具備的無需妥協的定性與定量性能、精簡的工作流程和無與倫比的平臺通用性，為復雜混合物和分子的詳盡表征開辟了新的途徑。

極佳的UPLC/MS/MS性能

強大的數據獨立型和數據依賴型解決方案

CID與ETD碎裂功能

多種實驗類型選擇

升級至三維的數據分辨率

極佳的UPLC/MS/MS性能

將StepWave和UPLC分離與定量飛行時間(QuanTof)技術相結合，實現最高的峰容量和數據質量。StepWave是目前最靈敏和最可靠的離子源，具有“主動”選擇離子和“被動”防止中性污染物的獨特功能。

與其他所有質譜分析器不同，QuanTof能夠提供高質量數高分辨率、精確質量數和準確的同位素比例、寬的動態(tài)范圍（譜圖內和定量）和m/z范圍，并且都可以在最快的采集速率實現，即便是對于高基質負荷的樣品也是如此。

強大的數據獨立型和數據依賴型解決方案

無與倫比的適用范圍和效率，適用于復雜混合物的分析。通用型UPLC/MS^E采集技術可以記錄每個可檢測的分子離子的碎片離子數據，與其它“數據獨立型分析”(DIA) 技術相比，具有卓越的占空比；同時我們的信息學技術可以為各種各樣的應用提供精簡的數據分析流程。

要想獲得更高效、更有效的靶向MS/MS，請選用最新的“非數據獨立型”工作流程。使用高分辨率MRM工作流程，可獲得更低的定量限；而使用FastDDA可實現更高的MS/MS靈敏度，擴大研發(fā)實驗中的化合物覆蓋范圍。

CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結構可提供碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂，并且同時得到高分辨率和精確質量數，從而獲得更好的MS/MS檢測結果。ETD選件性價比高，可以實現最佳性能（碎裂效率）和靈活性，且易于和使用和維護。

高解析度四極桿包括4KDa、8KDa或32KDa質量數范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS測定。

多種實驗類型選擇

沃特世的離子源結構可與各種技術相結合：對于分離，可結合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC²；對于電離，可結合ESI、APCI、APPI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它們可快速互換，在幾分鐘內即可使用。

對于直接進樣分析方法，可升級至HDMS功能和T-Wave 離子淌度技術，后者可提供最佳的電離后選擇性與特異性。在與高性能可以與大氣壓離子源快速切換MALDI選件結合時，這一點具有非常明顯的優(yōu)勢。

升級至三維的數據分辨率！

保留。遷移。質量。某些情況下，色譜和質量數分辨率還不能滿足要求。可簡單、快速、獨特地升級至SYNAPT 高清晰質譜功能和高效T-Wave離子淌度技術，從而可在分子大小和形狀的基礎上獲得另一個分離維度。利用分子碰撞截面特性這一項獨特的功能，可以提供最高水平的選擇性、特異性、靈敏度和結構分析。其優(yōu)點還包括同分異構體分離、消除干擾、生成更干凈的譜圖，以及更準確地識別化合物ID。

專業(yè)的深華公司提供專業(yè)的產品、專業(yè)的售前、售中、售后服務，將使您的工作能夠收到事半功倍的效果。

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